一、考試方式
考試采用筆試方式,考試時(shí)間為180分鐘,試卷滿分為150分。
二、試卷結(jié)構(gòu)與分?jǐn)?shù)比重
試題分為名詞解釋、簡答題、證明題、計(jì)算題、論述題等。其中:名詞解釋占20%,簡答題占30%,證明題占10%,計(jì)算題占10%,論述題占30%。
三、考查的知識(shí)范圍
1.半導(dǎo)體中的電子狀態(tài)(10%):能帶論,半導(dǎo)體中的電子運(yùn)動(dòng)、有效質(zhì)量,本征半導(dǎo)體的導(dǎo)電機(jī)制、空穴,鍺、硅、砷化鎵和鍺硅的能帶結(jié)構(gòu)。
2.載流子的統(tǒng)計(jì)分布(15%):狀態(tài)密度,費(fèi)米能級(jí)和載流子的統(tǒng)計(jì)分布,本征半導(dǎo)體的載流子濃度,雜質(zhì)半導(dǎo)體的載流子濃度。一般情況下的載流子的統(tǒng)計(jì)分布。
3.半導(dǎo)體的導(dǎo)電性(15%):載流子的漂移運(yùn)動(dòng),載流子的散射,遷移率與雜質(zhì)濃度和溫度的關(guān)系,玻爾茲曼方程;強(qiáng)電場效應(yīng),熱載流子。
4.非平衡載流子(20%):非平衡載流子的注人與復(fù)合,非平衡載流子的壽命,準(zhǔn)費(fèi)米能級(jí),復(fù)合理論,陷阱效應(yīng),載流子的擴(kuò)散運(yùn)動(dòng)、連續(xù)性方程。
5.PN結(jié)(15%):PN結(jié)及其能帶圖,PN結(jié)電流電壓特性。
6.金屬和半導(dǎo)體的接觸(10%):金屬和半導(dǎo)體接觸的整流理論,少數(shù)載流子的注入,歐姆接觸。
7.半導(dǎo)體表面與MIS結(jié)構(gòu)(15%):表面電場效應(yīng),理想與非理想的MIS結(jié)構(gòu)的C-V特性,Si-SiO2系統(tǒng)的性質(zhì),表面電導(dǎo)。
四、參考書目
《半導(dǎo)體物理學(xué)》(第7版),劉恩科主編,電子工業(yè)出版社
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