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學(xué)院代碼001
學(xué)院材料與冶金學(xué)院(稀土產(chǎn)業(yè)學(xué)院)
科目現(xiàn)代分析方法
代碼915
1.X射線衍射學(xué)及其在材料分析中的應(yīng)用，具體內(nèi)容包括：X射線物理基礎(chǔ)、X射線衍射基本理論、X射線衍射應(yīng)用基礎(chǔ)(衍射方法及X射線衍射儀)、X射線衍射法在材料研究中的三種基本應(yīng)用(晶態(tài)物質(zhì)定性、定量及點(diǎn)陣參數(shù)精確確定理論基礎(chǔ)、應(yīng)用方法及結(jié)果的分析)。
2.電子顯微學(xué)及其在材料分析中的應(yīng)用，具體內(nèi)容包括：電子顯微分析物理基礎(chǔ)、三種電子顯微分析設(shè)備(TEM、SEM和EPMA)基本工作原理及其在材料研究中的基本應(yīng)用、相應(yīng)結(jié)果的分析。
3.現(xiàn)代材料分析方法在材料研究中的綜合應(yīng)用，具體內(nèi)容包括根據(jù)復(fù)雜材料研究工程問題的目標(biāo)與要求，制定研究方案，分析解讀所獲得的結(jié)果，為復(fù)雜工程問題的解決提供理論及實(shí)踐證據(jù)。
參考書目：
《材料分析方法》(第3版)，周玉，主編，機(jī)械工業(yè)出版社，2011.
《材料現(xiàn)代分析方法》，左演生、陳文哲、梁偉，主編，北京工業(yè)出版社，2000.
文章來源：內(nèi)蒙古科技大學(xué)研究生官網(wǎng)
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