西安電子科技大學(xué)是211院校,也是很多同學(xué)的考研目標(biāo),高頓小編整理了西安電子科技大學(xué)自動(dòng)控制原理考研大綱,一起來看看吧~
23西安電子科技大學(xué)自動(dòng)控制原理考研大綱公布!
  一、總體要求
  要求學(xué)生深刻領(lǐng)會(huì)控制系統(tǒng)的基本原理,掌握單輸入單輸出、線性定常連續(xù)控制系統(tǒng)的常用分析與綜合方法。能夠建立線性定??刂葡到y(tǒng)的數(shù)學(xué)模型,對(duì)簡(jiǎn)單的線性定常系統(tǒng)能夠分采用時(shí)域分析法、頻率響應(yīng)法和根軌跡法進(jìn)行分析與綜合。能夠進(jìn)行采樣控制系統(tǒng)的建模和性能分析。掌握非線性控制系統(tǒng)的基本分析方法。
  二、考試范圍、要點(diǎn)以及所占比例
  1.自動(dòng)控制的基本概念
 ?。?)自動(dòng)控制的基本概念;開環(huán)、閉環(huán)(反饋)控制系統(tǒng)的原理及特點(diǎn);
  (2)自動(dòng)控制系統(tǒng)的分類;自動(dòng)控制系統(tǒng)的構(gòu)成;對(duì)自動(dòng)控制系統(tǒng)的基本要求。
  2.控制系統(tǒng)的數(shù)學(xué)描述
 ?。?)控制系統(tǒng)的數(shù)學(xué)模型及建立方法;非線性數(shù)學(xué)模型的微偏線性化;
 ?。?)傳遞函數(shù)、典型環(huán)節(jié)、控制系統(tǒng)的動(dòng)態(tài)結(jié)構(gòu)圖;
 ?。?)反饋控制系統(tǒng)的傳遞函數(shù);
 ?。?)控制系統(tǒng)的頻率響應(yīng)特性及表示法,如頻率特性函數(shù)、伯德(Bode)圖和奈奎斯特
 ?。∟yquist)圖。
  3.控制系統(tǒng)的穩(wěn)定性分析
  (1)穩(wěn)定性的定義;
 ?。?)勞斯(Routh)判據(jù),Nyquist判據(jù),Bode判據(jù);
 ?。?)非最小相位系統(tǒng)的穩(wěn)定性分析。
  4.線性定常連續(xù)控制系統(tǒng)的運(yùn)動(dòng)分析
 ?。?)時(shí)域分析法:控制系統(tǒng)的穩(wěn)態(tài)誤差,典型信號(hào)作用下的穩(wěn)態(tài)誤差分析,擾動(dòng)信號(hào)作用下的穩(wěn)態(tài)誤差分析及抑制;控制系統(tǒng)的動(dòng)態(tài)性能指標(biāo);一階、二階系統(tǒng)的動(dòng)態(tài)響應(yīng)分析;主導(dǎo)極點(diǎn)和高階系統(tǒng)的動(dòng)態(tài)響應(yīng)分析;閉環(huán)傳遞函數(shù)零極點(diǎn)分布對(duì)動(dòng)態(tài)響應(yīng)的影響。
 ?。?)根軌跡法:常規(guī)根軌跡及廣義根軌跡(零度根軌跡、參量根軌跡);基于根軌跡圖的系統(tǒng)性能分析與估算;根軌跡法校正。
  (3)頻率響應(yīng)法:穩(wěn)定裕度的計(jì)算;從開環(huán)頻率特性計(jì)算閉環(huán)系統(tǒng)的動(dòng)態(tài)性能;二階系統(tǒng)時(shí)域與頻域性能的對(duì)應(yīng)關(guān)系;開環(huán)對(duì)數(shù)頻率特性低、中、高頻段特征與閉環(huán)系統(tǒng)性能的關(guān)系。
  5.線性定常連續(xù)控制系統(tǒng)的校正
  (1)期望開環(huán)對(duì)數(shù)頻率特性的設(shè)計(jì)(“三頻段”原則);
 ?。?)串聯(lián)校正(超前校正、滯后校正、滯后-超前校正、PID校正);
 ?。?)反饋校正;
  (4)復(fù)合控制與前饋校正。
  6.采樣控制系統(tǒng)
 ?。?)采樣控制系統(tǒng)的基本概念與脈沖傳遞函數(shù);
 ?。?)采樣控制系統(tǒng)的穩(wěn)定性分析;
  (3)采樣控制系統(tǒng)的穩(wěn)態(tài)誤差分析;
 ?。?)采樣控制系統(tǒng)的暫態(tài)性能分析。
  7.非線性控制系統(tǒng)
 ?。?)非線性系統(tǒng)的基本概念、數(shù)學(xué)描述、分類、特點(diǎn)和常用研究方法;
 ?。?)非線性系統(tǒng)的描述函數(shù)法,自激振蕩的概念及判別;
 ?。?)非線性系統(tǒng)的相平面法。
  三、考試形式
  1.考試時(shí)間:180分鐘。
  2.試卷分值:150分。
  3.考試方式:閉卷考試
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